Chroma 2D/3D Wafer Metrology System 7980

7980 Wafer Measurement System – Presisi Tinggi untuk Metrologi 3D

7980 Wafer Measurement System menggunakan teknologi White Light Interferometry (WLI) untuk menghadirkan pengukuran permukaan 3D skala nano yang cepat dan non-destruktif, sehingga sangat ideal untuk aplikasi advanced semiconductor packaging.

Berdasarkan data Congruence Market Insight 2024, teknologi WLI menguasai lebih dari 45% market share dalam pengukuran 3D, berkat resolusi dan presisinya yang sangat tinggi.

Fitur Utama:

• Pengukuran 3D Resolusi Tinggi:
  Mampu melakukan profiling permukaan skala nano dengan akurasi tinggi.
• Inspeksi Cepat & Non-Destruktif:
  Menghasilkan pengukuran akurat tanpa merusak wafer, meningkatkan efisiensi proses.
• Kemampuan Metrologi 2D/3D Canggih:
  Mendukung pengukuran critical dimension (CD) dan probe mark, sesuai standar industri semikonduktor.
• Fitur Self-Monitoring QCM:
  Sistem Quality Control Monitoring (QCM) memastikan performa yang stabil dan konsisten.
• Siap untuk Teknologi Masa Depan:
  Dirancang dengan fleksibilitas tinggi untuk menghadapi kebutuhan manufaktur semikonduktor generasi berikutnya.

Menggabungkan presisi, kecepatan, dan keandalan, 7980 menjadi solusi penting untuk inspeksi wafer dan metrologi tingkat lanjut.

Jl. Bhayangkara, Ruko Crystal Lane No.23 Tangerang Selatan, Banten.
(62) 81212573546 / (62) 21 5317 0021
sales@emstechnology-indonesia.com